ساخت دستگاه اندازه گیری ضریب سبیك برای فیلم­های نازك پلیمری و مواد ترموالكتریك

خلاصه اختراع :

این اختراع مربوط به ساخت دستگاه اندازه گیری ضریب سیبك برای مواد و پلیمرهای ترموالكتریك است. بنابراین این اختراع در زمینه مواد (اعم از پلیمری و غیر پلیمری) و اندازه گیری خواص آنها قابل طبقه-بندی است. مواد ترموالكتریك بخاطر امكان تبدیل گرمای تلف شده به انرژی الكتریكی به شدت مورد توجه قرار گرفته اند. ضریب سیبك یك ماده ترموالكتریك اعم از پلیمری و غیر پلیمری نشان دهنده میزان توانایی آن ماده در تبدیل مستقیم انرژی حرارتی به انرژی الكتریكی می باشد. با توجه به روز بودن مسئله مواد ترموالكتریك هنوز دستگاه های اندازه گیری خواص آنها عمومی نشده اند. از طرفی اندازه گیری خواص آنها برای فیلم های نازك تیز مشكل می باشد. در این اختراع دستگاهی ساخته شده است كه اندازه گیری این خاصیت را برای فیلم های نازك و نیز مواد توده امكان پذیر می سازد. چنین دستگاهی در تمامی مواردی كه سخن از مواد هوشمند ترموالكتریك است نظیر باتری های خورشیدی، البسه هوشمند، تجهیزات پزشكی و هر نوع تحقیقیبر پایه این مواد كاربرد دارد.