خلاصه اختراع :

هدف اصلی این پژوهش بررسی زبری سطح لایه های حاصل از نانو الیاف پلی آكریلونیتریل (PAN) است. به این منظور با تغییر غلظت محلول PAN از 11 به 15 درصد وزنی، لایه هایی از نانو لایه PAN تهیه شد. سپس با استفاده از روش آنتروپی (ENT) و میكروسكوپی نیروی اتمی (AFM) زبری سطح لایه ها اندازه گیری و نتایج حاصل از دو روش مقایسه شد. برای ارزیابی زبری سطح با استفاده از روش AFM مشخصه های زبری شامل بیشینه ارتفاع تصویر متوسط ارتفاع ده نقطه میانگین حسابی زبری و جذر میانگین مربعات زبری محاسبه و از مشخصه میانگین حسابی زبری به عنوان شاخص زبری سطح استفاده شد. با توجه به نتایج مشاهده شد كه افزایش غلظت محلول PAN از 11 به 15 درصد وزنی منجر به افزایش قطر الیاف در نانو لایه حاصل از 195 به 524nm شده است. همچنین نتایج به دست آمده از اندازه گیری زبری سطح به هر دو روش ENT,AFM نشان دهنده افزایش زبری سطح لایه ها با افزایش قطر الیاف تشكیل دهنده آنهاست. در بررسی های آماری انجام دشه ملاحظه شد كه ضریب هم بستگی بین نتایج زبری سطح حاصل از هر دو روش و قطر نانو الیاف بیش از 0/9 است. همچنین مشاهده شد بین زبری سطح به دست آمده از دو روش از نظر آماری توافق خوبی وجود دارد.